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X熒光光譜儀XRF的特征譜線的產生是基于不同的機理
  • 發布日期:2020-07-28     信息來源:      瀏覽次數:233
    •    X熒光光譜儀XRF采用兩種分光技術,一是通過分光晶體對不同波長的X-熒光進行衍射而達到分光目的,然后用探測器探測不同波長處X-熒光強度,這項技術稱為波長色散光譜。另一項技術是首先使用探測器接收所有不同能量的X-熒光,通過探測器轉變成電脈沖信號,經前置放大后,用多道脈沖高度分析器進行信號處理,得到不同能量X-熒光的強度分布譜圖,即能量色散光譜,簡稱X-熒光能譜。

       
        X熒光光譜儀XRF的特征譜線的產生是基于不同的機理:
        a)入射X射線轟擊原子的內層電子,如果能量大于它的吸收邊,該內層電子被驅逐出整個原子(整個原子處于高能態,即激發態)。
        b)較高能級的電子躍遷,補充空穴,整個原子回到低能態,即基態。
        c)由高能態轉化為低能態,釋放能量。
        d)能量如果以X射線的形式釋放,則會產生X射線熒光。
       
        主要特點:
        無需前處理,非破環性,快速分析。
        準確的定性分析;元素測定范圍寬。
        定量分析,根據不同元素。
        可以替代傳統的ICP測試方法。
        配置新型濾光片,提高Pb、Cd等的靈敏度提高2倍。
        配置高計數率電路,增加檢測器的計數量,計數率為3000~12000CPS。
        增加時間縮短功能,由熒光X射線強度算出測定精度,自動判斷所需較少測定時間。
        增加自動工作曲線選擇功能,依據識別樣品種類的不同而選擇最適宜的工作曲線。

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